去电子作用检测

检测项目

表面电阻率检测：测量范围103-1012Ω，分辨率0.1%

体积电阻率检测：ASTM D257标准，测试电压100V±5%

静电衰减时间测试：衰减至初始值10%所需时间（0.1s-60s）

摩擦电压测定：ISO 18080-2方法，转速300rpm±5%

电荷半衰期分析：IEC 61340-5-1规范，精度±5ms

检测范围

电子元件封装材料：EMI屏蔽胶、PCB基板

工业防护材料：抗静电地板、防爆容器涂层

高分子复合材料：碳纤维增强塑料（CFRP）

功能性纺织品：导电纤维织物、防静电工装

特种涂料与薄膜：ITO透明导电膜、石墨烯涂层

检测方法

四探针法：ASTM F390测定薄层电阻，适用半导体材料

平行板电极法：ISO 1853测量体积电阻，精度±2%

法拉第笼电荷法：MIL-STD-1686C标准电荷量检测

旋转摩擦法：JIS L1094评估纺织品静电吸附性

热刺激电流法（TSC）：分析材料陷阱电荷密度

检测设备

Keysight B2987A静电计：10aA-10mA电流测量，0.05%基本精度

EST121表面电阻测试仪：符合ANSI/ESD S11.11标准

Trek 15701电荷衰减分析系统：时间分辨率0.1ms

HIOKI SM7110高阻计：最大测量值1×1018Ω

Thermo Scientific C-ESD环境舱：温控范围10-40℃，RH控制±3%